立会分析は日産アークへ！
ご存じですか？
日産アークはお客様立会のもと観察・分析することができる、
数少ない受託分析会社です。
立会分析のメリット
●熟練技術者が装置をオペレート
●リアルタイムで観察、分析箇所の指定可能
●電子データをその日にお持ち帰り
こんなお客様に最適です。
・観察した上で目的の箇所の組成を知りたい・資料を持ちこんでその日に結果を持ち帰りたい
・試料の点数、分析箇所が決まっていない
・試料の秘匿性が高く、預けられない
・狙った箇所を断面加工したい
・専門スキル習得や装置保守が大変なので自社での装置購入は困難
立会対象装置
| ・走査電子顕微鏡(SEM) ・透過電子顕微鏡(TEM) ・エネルギー分散型Ｘ線元素分析(EDX) ・Ｘ線光電子分光分析(XPS) ・オージェ電子分光分析(AES) ・収束イオンビーム装置(FIB) ・走査イオン顕微鏡(SIM) |  |
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●基本料金
分析費用20万円（立会最大３時間／試料点数無制限、打合せ・最終報告含まず）
延長料金30分毎に３万円加算
※前処理が必要な場合、別途費用がかかります。
■お急ぎの方はこちらへ
担当：當麻 肇、島貫純一
TEL：046-812-4027
■以下のフォームからもお問い合わせいただけます。
