【新技術発表あります！】デジタル・ホログラフィック顕微鏡セミナー2013大阪のご案内

2013年11月15日（金）13:00～　会場：CIVI(シーヴィー)新大阪研修センター

日本カンタム・デザインでは2012年秋より、非接触でのマイクロレベルの3次元測定とリアルタイム計測を備えた
「デジタル・ホログラフィック顕微鏡（以下DHM、Lyncee tec社・スイス）」の取扱いをスタートいたしました。
3次元測定の分野で定番とされるレーザ顕微鏡や白色干渉計に加え新たなソリューションを提供できる技術です。

本セミナーでは、DHMの測定原理と幅広いアプリケーションのご紹介、そして新技術の透明薄膜測定モジュール「Reflectometry Module」の発表を中心に、DHMを身近に感じていただくプログラムを企画しております。
また、実機を使ったデモンストレーションを通して、DHMの簡単な操作性を体感いただく企画を予定しております。

去る7月19日（金）に東京で開催し好評をいただきましたセミナーを
今回大阪にて開催いたします！！

◆本セミナーの内容

【今回の見どころ(1)】　デジタル・ホログラフィック顕微鏡（DHM） （Lyncee tec社製）

☆DHMの測定原理と特徴を分かりやすくご紹介。
   レーザ顕微鏡や白色干渉計など従来技術との比較を盛り込みながらDHMのメリットに迫ります。

☆幅広いアプリケーション：
   ●材料の表面粗さ：加工材・耐久材など
   ●立体構造の可視化：サブミクロンでの段差構造・マイクロデバイス
   ●広範囲の高速測定：スティッチング・スクリーニング
   ●動的サンプルのリアルタイム測定：バイオ系・MEMS・マイクロ流路

☆実機デモンストレーション：少人数グループで装置の基本オペレーションを間近でご覧いただけます。

【今回の見どころ(2)】　新技術：透明薄膜測定モジュール「Reflectometry Module」ご紹介

☆光干渉を用いる技術では透過してしまって膜表面を検知できないなどの問題に朗報！
☆従来方式では困難な1µm以下の透明膜の測定に対応
☆20nm～数µmの厚さに対応

セミナー詳細

日時	2013年11月15日（金）13:00～16:30（12:30より受付）
会場	CIVI（シーヴィー）新大阪研修センター 905D 〒532-0011　大阪市淀川区西中島3丁目9-13 NLC新大阪8号館9F （JR「新大阪」駅、地下鉄御堂筋線「新大阪」駅から徒歩7分 地下鉄御堂筋線「西中島南方」駅、阪急「南方」駅から徒歩4分）
参加費	無料
締切	11月8日（金） ※お申込み順に登録いたします。定員になり次第、締切りとさせていただきます。
資料	ダウンロード版セミナーご案内資料PDFはこちら

☆No Scanning が可能にする表面観察の世界☆

■ デジタル・ホログラフィック顕微鏡 （Lyncee tec社製）

		－	数µmの急峻な段差を走査なし（No Scanning）で瞬時に測定・3次元画像化
		－	測定中、XY軸またはZ軸の走査がないので、除振が不要・ステージの取り回しが自由
		－	垂直分解能はナノレベル以下。各種工業規格に準拠した表面粗さ分析も可能
		－	1視野の測定が一瞬なので、高速で広範囲のスティッチング測定が可能
		－	動的サンプルのリアルタイム3次元測定、MEMSなどの高周波駆動デバイスにも対応 （ストロボスコピック測定）
		－	ラボ内に留まらず、QCラインでの形状や粗さ判定の自動化に活用

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