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日本電子は、電子顕微鏡をはじめとする分析機器の製造・販売70年。
ＳＥＭ試料を非破壊で観察するＸ線ＣＴの販売と受託分析を開始しました。

非破壊で、バイオ系試料から産業用材料の２Ｄ／３Ｄ微細構造解析が可能です。μＣＴによる広範囲な内部構造の把握、
材料の構造的特性を解析することで情報量のUPや前処理工程の削減に繋がります。

X線マイクロCT装置 µCT50

スイスSCANCO MEDICAL 社製 µCT50は、非破壊でバイオ系試料から産業用材料の２Ｄ／３Ｄ微細構造解析が可能です。
X線CT装置 仕様

X線出力
分解能（Pixek,Voxel）
画像解像度
最大測定領域
最大搭載試料サイズ

20～100ｋV
0.5-100μm
512×512～8192×8192
50mmΦ×120mm（高さ）
100mmΦ×160mm（高さ）
特長

測定～2D測定～応用解析まで、1台で全て行うことが可能。
低密度材料と空隙を正確に見分ける高コントラスト能力
試料ホルダー方式採用により煩雑な中心軸の位置合わせは不要
オートサンプルチェンジャー搭載により無人連続スキャンが可能
2D/3D多彩な構造解析に対応可能なオリジナルソフトウェア
アプリケーションデータを見る


≪使用例≫
SEM用試料の面出し処理前における内部構造確認
SEM観察試料を断面加工する前にX線CT装置にて
非破壊3Dイメージを取得することにより内部構造が把握でき、
目的箇所を効率よく確実に断面作製をすることが可能となります。

 アプリケーションデータ

▶X線CT装置のほか、各種分析装置による受託分析も承っております。
　試料作製に関するご相談にも対応します。WEB立会い分析も受付中です！

　詳しくはこちら



※アンケートの回答ならびにアンケートページ閲覧・カタログダウンロードについて、日本電子株式会社とＩＲＭＡＩＬ事務局で共有させていただきます。


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