非接触三次元光干渉粗さ計のご案内※リーフレットやプレゼン資料を下記よりご覧いただけます。

様々な材料の粗さ・形状評価に応えるナノオーダー非接触3次元システム

ブルカーは白色干渉法を利用した表面形状計測機器のパイオニアであり、精密デバイスから車載部品等の大型試料に至るまでの幅広いサイズのサンプルに対応した
非接触３次元形状測定・分析を提供しています。最新モデルとなるContourシリーズは、10世代に渡る独自のテクノロジーの進歩の集大成であり、他の計測機器
では困難な環境下での高精度で高再現性な3次元表面測定を提供し、様々な半導体/電子部品材用の評価・開発現場にて高い信頼性とパフォーマンスを提供します。

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非接触三次元干渉粗さ計を用いた電子材料の表面形状測定事例 プレゼン資料ダウンロード

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